Impact of the Ohmic Electrode on the Endurance of Oxide-Based Resistive Switching Memory

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Link zu diesem Datensatz	https://d-nb.info/1228979995
Titel	Impact of the Ohmic Electrode on the Endurance of Oxide-Based Resistive Switching Memory / Stefan Wiefels, Moritz Alexander von Witzleben, Michael Huttemann, Ulrich Böttger, Rainer Waser, Stephan Menzel
Person(en)	Wiefels, Stefan (Verfasser) von Witzleben, Moritz Alexander (Verfasser) Huttemann, Michael (Verfasser) Böttger, Ulrich (Verfasser) Waser, Rainer (Verfasser) Menzel, Stephan (Verfasser)
Verlag	Aachen : Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Zeitliche Einordnung	Erscheinungsdatum: 2021
Umfang/Format	Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier	URN: urn:nbn:de:101:1-2021031002303013933063 DOI: 10.18154/RWTH-2021-02225
URL	https://publications.rwth-aachen.de/record/814428 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n)	Englisch (eng)
Anmerkungen	In: 10.1109/TED.2021.3049765
DDC-Notation	530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n)	530 Physik

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