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Ergebnis der Suche nach: tit all "Effective march algorithms for testing single-order addressed memories."



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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1326418211
Titel Effective march algorithms for testing single-order addressed memories / by AD J. Van De Goor, Yervant Zorian
Person(en) Goor, AD J. Van De (Verfasser)
Zorian, Yervant (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2404170906108.162498524946
DOI: 10.1007/BF00972518
URL https://doi.org/10.1007/BF00972518
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1994
DDC-Notation 004.5 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Journal of electronic testing (Bd. 5, Nr. 4, date:11.1994: 337-345)
Sachgruppe(n) 004 Informatik

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