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Ergebnis der Suche nach: tit all "Identifying Resistive Open Defects in Embedded Cells under Variations"
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	1	Identifying resistive open defects in embedded cells under variations Najafi-Haghi, Zahra Paria. - Stuttgart : Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart, 2023
	2	Identifying Resistive Open Defects in Embedded Cells under Variations Enthalten in Journal of electronic testing 9.2.2023: 1-14