Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Modeling Fault Coverage of Random Test Patterns."
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1296233022 |
| Titel | Modeling Fault Coverage of Random Test Patterns / by Hailong Cui, Sharad C. Seth, Shashank K. Mehta |
| Person(en) |
Cui, Hailong (Verfasser) Seth, Sharad C. (Verfasser) Mehta, Shashank K. (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2023071521382465365219 DOI: 10.1023/A:1023796929359 |
| URL | https://doi.org/10.1023/A:1023796929359 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2003 |
| DDC-Notation | 004.2 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of electronic testing (Bd. 19, Nr. 3, date:6.2003: 271-284) |
| Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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