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Ergebnis der Suche nach: tit all "Partial Reset Methodology and Experiments for Improving Random-Pattern Testability and BIST of Sequential Circuits."
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/129484976X |
| Titel | Partial Reset Methodology and Experiments for Improving Random-Pattern Testability and BIST of Sequential Circuits / by Huy Nguyen, Rabindra Roy, Abhijit Chatterjee |
| Person(en) |
Nguyen, Huy (Verfasser) Roy, Rabindra (Verfasser) Chatterjee, Abhijit (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2023070322113405303865 DOI: 10.1023/A:1008366304699 |
| URL | https://doi.org/10.1023/A:1008366304699 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1999 |
| DDC-Notation | 005.1 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of electronic testing (Bd. 14, Nr. 3, date:6.1999: 259-272) |
| Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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