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Ergebnis der Suche nach: tit all "Scan Test Strategy for Asynchronous-Synchronous Interfaces."



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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1327218291
Titel Scan Test Strategy for Asynchronous-Synchronous Interfaces / by Octavian Petre, Hans G. Kerkhoff
Person(en) Petre, Octavian (Verfasser)
Kerkhoff, Hans G. (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2404241032249.873168773244
DOI: 10.1007/s10677-004-4251-3
URL https://doi.org/10.1007/s10677-004-4251-3
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2004
DDC-Notation 621.395 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Journal of electronic testing (Bd. 20, Nr. 6, date:12.2004: 639-645)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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