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Ergebnis der Suche nach: tit all "Spectral-interference microscopy for characterization of functional plasmonic elements"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1107217164 |
| Titel | Spectral-interference microscopy for characterization of functional plasmonic elements / Christian Rewitz ; Thomas Keitzl ; Philip Tuchscherer ; Sebastian Goetz ; Peter Geisler ; Gary Razinskas ; Bert Hecht ; Tobias Brixner |
| Person(en) |
Rewitz, Christian (Verfasser) Keitzl, Thomas (Verfasser) Tuchscherer, Philip (Verfasser) Goetz, Sebastian (Verfasser) Geisler, Peter (Verfasser) Razinskas, Gary (Verfasser) Hecht, Bert (Verfasser) Brixner, Tobias (Verfasser) |
| Verlag | Würzburg : Universität Würzburg |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2013 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bvb:20-opus-85922 |
| URL |
http://www.opticsinfobase.org/oe/fulltext.cfm?uri=oe-20-13-14632&id=238393 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) https://opus.bibliothek.uni-wuerzburg.de/frontdoor/index/index/docId/7203 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: Optics Express (2012) 20: 13, 14632-14647, doi:10.1364/OE.20.014632 |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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