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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1304543641 |
Titel | Test Challenges in Nanometer Technologies / by Sandip Kundu, Sujit T. Zachariah, Sanjay Sengupta, Rajesh Galivanche |
Person(en) |
Kundu, Sandip (Verfasser) Zachariah, Sujit T. (Verfasser) Sengupta, Sanjay (Verfasser) Galivanche, Rajesh (Verfasser) |
Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
Umfang/Format | Online-Ressource, 1 online resource. |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2023093009140103697354 DOI: 10.1023/A:1012203009875 |
URL | https://doi.org/10.1023/A:1012203009875 |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2001 |
DDC-Notation | 621.3815 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | Enthalten in: Journal of electronic testing (Bd. 17, Nr. 3-4, date:6.2001: 209-218) |
Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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