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Ergebnis der Suche nach: tit all "Test Challenges in Nanometer Technologies."



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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1304543641
Titel Test Challenges in Nanometer Technologies / by Sandip Kundu, Sujit T. Zachariah, Sanjay Sengupta, Rajesh Galivanche
Person(en) Kundu, Sandip (Verfasser)
Zachariah, Sujit T. (Verfasser)
Sengupta, Sanjay (Verfasser)
Galivanche, Rajesh (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource, 1 online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2023093009140103697354
DOI: 10.1023/A:1012203009875
URL https://doi.org/10.1023/A:1012203009875
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2001
DDC-Notation 621.3815 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Journal of electronic testing (Bd. 17, Nr. 3-4, date:6.2001: 209-218)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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