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Ergebnis der Suche nach: tit all "Traceable Reference Full Metrology Chain for Innovative Aspheric and Freeform Optical Surfaces Accurate at the Nanometer Level"

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Titel	Traceable reference full metrology chain for innovative aspheric and freeform optical surfaces accurate at the nanometer level / Yassir Arezki, Rong Su, Ville Heikkinen, François Leprete, Pavel Posta, Youichi Bitou, Christian Schober, Charyar Mehdi-Souzani, Bandar Abdulrahman Mohammed Alzahrani, Xiangchao Zhang, Yohan Kondo, Christof Pruss, Vit Ledl, Nabil Anwer, Mohamed Lamjed Bouazizi, Richard Leach, Hichem Nouira
Person(en)	Arezki, Yassir (Verfasser) Su, Rong (Verfasser) Heikkinen, Ville (Verfasser) Leprete, François (Verfasser) Posta, Pavel (Verfasser) Bitou, Youichi (Verfasser) Schober, Christian (Verfasser) Mehdi-Souzani, Charyar (Verfasser) Alzahrani, Bandar Abdulrahman Mohammed (Verfasser) Zhang, Xiangchao (Verfasser) Kondo, Yohan (Verfasser) Pruss, Christof (Verfasser) Ledl, Vit (Verfasser) Anwer, Nabil (Verfasser) Bouazizi, Mohamed Lamjed (Verfasser) Leach, Richard (Verfasser) Nouira, Hichem (Verfasser)
Verlag	Stuttgart : Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
Zeitliche Einordnung	Erscheinungsdatum: 2021
Umfang/Format	Online-Ressource
Persistent Identifier	URN: urn:nbn:de:bsz:93-opus-ds-126758 DOI: 10.18419/opus-12656
URL	(kostenfrei zugänglich)
Sprache(n)	Englisch (eng)
Anmerkungen	In: Sensors 21 (2021), No. 1103
DDC-Notation	681.2 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n)	670 Industrielle und handwerkliche Fertigung

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