Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1159397783 |
| Titel | Metal Impurities in Silicon and Germanium-Based Technologies : Origin, Characterization, Control and Device Impact / Cor Claeys, Eddy Simoen |
| Person(en) |
Claeys, Cor (Verfasser) Simoen, Eddy (Verfasser) |
| Organisation(en) | Springer International Publishing (Verlag) |
| Ausgabe | 1st edition 2018 |
| Verlag | Cham : Springer International Publishing - Springer |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2018 |
| Umfang/Format | 300 Seiten in 1 Teil : 75 Illustrationen ; 23.5 cm x 15.5 cm |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: ISBN: 9783319939254 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-319-93924-7 Festeinband : circa EUR 149.79 (DE) (freier Preis), circa EUR 153.99 (AT) (freier Preis), circa CHF 154.00 (freier Preis) 3-319-93924-6 |
| Bestellnummer(n) | Bestellnummer: 978-3-319-93924-7 |
| EAN | 9783319939247 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Springer Series in Materials Science ; 270 |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltstext |
| Frankfurt |
Bestand: [Gehoert eindeutig nicht zum Sammelgebiet der Deutschen Nationalbibliothek]
Verlagsinformation |
| Leipzig |
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