Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Am Dienstag, 10. Dezember öffnet die Deutsche Nationalbibliothek in Frankfurt am Main wegen einer Mitarbeiterversammlung erst ab 14 Uhr für die Benutzung. // The German National Library in Frankfurt am Main will only open at 14:00 on Tuesday 10 December due to a staff assembly.
 
Neuigkeiten Am Mittwoch, 11. Dezember, öffnet die Deutsche Nationalbibliothek in Leipzig wegen einer Mitarbeiterversammlung erst ab 14 Uhr für die Benutzung. Die Ausstellungen des Deutschen Buch- und Schriftmuseums sind von 10 bis 18 Uhr geöffnet. // The German National Library in Leipzig will only open at 14:00 on Wednesday 11 December due to a staff assembly. The exhibitions of the German Museum of Books and Writing in the annex will open from 10:00 to 18:00.
 
 

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Sachbegriffe
Link zu diesem Datensatz http://d-nb.info/gnd/4333578-0
Sachbegriff Rasterkraftmikroskop
Quelle Römpp (online); Physikal. Blätter 48(1992) Nr. 12 S. 1007
Erläuterungen Definition: Hochauflösendes Mikroskop zur Abbildung von Oberflächen und Messung atomarer Kräfte auf der Nanometerskala
Oberbegriffe Rastersondenmikroskop
DDC-Notation 502.82
Systematik 21.3 Elektrizität, Magnetismus, Optik
Typ Allgemeinbegriff (saz)
Andere Normdaten LCSH: Atomic force microscopy
RAMEAU: Microscopie à force atomique
Untergeordnet 1 Datensatz
  1. Kantilever
    Rasterkraftmikroskop
Thema in 46 Publikationen
  1. Methoden der Leitfähigkeitsuntersuchung mittels Rasterkraftmikroskop und deren Anwendung auf Barium Titanat Systeme
    Reichenberg, Bernd. - Jülich : Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek, Verlag, [2018]
  2. Novel sensors for scanning force microscopy based on carbon nanotube mechnical resonators
    Reiche, Christopher Friedrich. - Dresden : TUDpress, 2016
  3. ...
Maschinell verknüpft mit 7 Publikationen
  1. Realisierung der Steuerungs-/Regelungsalgorithmen mittels FPGA für ein hochauflösendes und schnelles Rasterkraftmikroskop mit aktivem Cantilever
    Ahmad, Ahmad. - Ilmenau : TU Ilmenau, 2018
  2. Physikalische Eigenschaften und Anwendung des Rasterkraftmikroskops
    Lehmann, Moritz. - München : GRIN Verlag, 2017, 1. Auflage, digitale Originalausgabe
  3. ...





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