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Titel Characterization of strain fields in Si1-xGex island structures by means of quantitative high-resolution electron microscopy / Anh Tuan Tham, Reinhard Otto, Wolfgang Neumann, Herbert Wawra, H. P. Strunk
Person(en) Tham, Anh Tuan (Verfasser)
Otto, Reinhard (Verfasser)
Neumann, Wolfgang (Verfasser)
Wawra, Herbert (Verfasser)
Strunk, H. P. (Verfasser)
Verlag Berlin : Humboldt-Universität zu Berlin
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
Umfang/Format Online-Ressource
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:kobv:11-110-18452/28642-3
DOI: 10.1017/s1431927603023328
URL http://edoc.hu-berlin.de/18452/28642 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen In: Microscopy and microanalysis, Band 9, Ausgabe S03, Seite 274-275, 2023
DDC-Notation 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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