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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Eigenspannungsmessungen an einkristallinen und polykristallinen Materialien mittels digitaler Bildkorrelation und Focused Ion Beam / Markus Krottenthaler ; Gutachter: Mathias Göken, Chris Eberl
Person(en) Krottenthaler, Markus (Verfasser)
Göken, Mathias (Gutachter)
Eberl, Chris (Gutachter)
Organisation(en) FAU University Press ein Imprint der Universität Erlangen-Nürnberg. Universitätsbibliothek (Verlag)
Verlag Erlangen : FAU University Press
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2016
Umfang/Format Online-Ressource
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Krottenthaler, Markus: Eigenspannungsmessungen an einkristallinen und polykristallinen Materialien mittels digitaler Bildkorrelation und Focused Ion Beam
Hochschulschrift Dissertation, Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2016
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus4-79521
URL https://opus4.kobv.de/opus4-fau/frontdoor/index/index/docId/7952 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Deutsch (ger)
Beziehungen FAU Studien Materialwissenschaft und Werkstofftechnik ; 11
Schlagwörter Eigenspannung ; Elastizität ; Anisotropie ; Bildkorrelation ; Ionenstrahlanalyse ; Nickellegierung ; Schutzschicht ; Kohlenstoff ; Amorpher Zustand ; Metallisches Glas
DDC-Notation 620.1123 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

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