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Titel Use of atomic force microscopy (AFM) to explore cell wall properties and response to stress in the yeast Saccharomyces cerevisiae / by Jean Marie Francois, Cécile Formosa, Marion Schiavone, Flavien Pillet, Hélène Martin-Yken, Etienne Dague
Person(en) Francois, Jean Marie (Verfasser)
Formosa, Cécile (Verfasser)
Schiavone, Marion (Verfasser)
Pillet, Flavien (Verfasser)
Martin-Yken, Hélène (Verfasser)
Dague, Etienne (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2019080209430351355478
DOI: 10.1007/s00294-013-0411-0
URL https://doi.org/10.1007/s00294-013-0411-0
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2013
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Current genetics (Bd. 59, 27.9.2013, Nr. 4, date:11.2013: 187-196)
Sachgruppe(n) 570 Biowissenschaften, Biologie

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