Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Titel Poole–Frenkel Effect and the Opportunity of Its Application for the Prediction of Radiation Charge Accumulation in Thermal Silicon Dioxide / by A. A. Shiryaev, V. M. Vorotyntsev, E. L. Shobolov
Person(en) Shiryaev, A. A. (Verfasser)
Vorotyntsev, V. M. (Sonstige)
Shobolov, E. L. (Sonstige)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2018101621523638959250
DOI: 10.1134/S1063782618090166
URL http://dx.doi.org/10.1134/S1063782618090166
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2018
DDC-Notation 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Semiconductors (Bd. 52, 22.8.2018, Nr. 9, date:9.2018: 1114-1117)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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