Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Mittwoch, 20. November 2019 (Buß- und Bettag): Die Deutsche Nationalbibliothek in Leipzig und die Ausstellungen des Deutschen Buch- und Schriftmuseums sind geschlossen. // Wednesday, 20 November 2019 (Penance Day): The German National Library and the exhibitions of the German Museum of Books and Writing will be closed.
 
 

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Sachbegriffe
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Sachbegriff Rasterkraftmikroskop
Quelle Römpp (online); Physikal. Blätter 48(1992) Nr. 12 S. 1007
Erläuterungen Definition: Hochauflösendes Mikroskop zur Abbildung von Oberflächen und Messung atomarer Kräfte auf der Nanometerskala
Oberbegriffe Rastersondenmikroskop
DDC-Notation 502.82
Systematik 21.3 Elektrizität, Magnetismus, Optik
Typ Allgemeinbegriff (saz)
Andere Normdaten LCSH: Atomic force microscopy
RAMEAU: Microscopie à force atomique
Untergeordnet 1 Datensatz
  1. Kantilever
    Rasterkraftmikroskop
Thema in 46 Publikationen
  1. Methoden der Leitfähigkeitsuntersuchung mittels Rasterkraftmikroskop und deren Anwendung auf Barium Titanat Systeme
    Reichenberg, Bernd. - Jülich : Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek, Verlag, [2018]
  2. Novel sensors for scanning force microscopy based on carbon nanotube mechnical resonators
    Reiche, Christopher Friedrich. - Dresden : TUDpress, 2016
  3. ...
Maschinell verknüpft mit 7 Publikationen
  1. Realisierung der Steuerungs-/Regelungsalgorithmen mittels FPGA für ein hochauflösendes und schnelles Rasterkraftmikroskop mit aktivem Cantilever
    Ahmad, Ahmad. - Ilmenau : TU Ilmenau, 2018
  2. Physikalische Eigenschaften und Anwendung des Rasterkraftmikroskops
    Lehmann, Moritz. - München : GRIN Verlag, 2017, 1. Auflage, digitale Originalausgabe
  3. ...





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