Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Analyse ioneninduzierter Ausfallmechanismen in hochintegrierten CMOS-Speicherzellen / Yvonne Gawlina-Schmidl. Gutachter: Gerhard Wachutka ; Dieter Silber. Betreuer: Gerhard Wachutka
Person(en) Gawlina-Schmidl, Yvonne (Verfasser)
Wachutka, Gerhard (Akademischer Betreuer)
Silber, Dieter (Akademischer Betreuer)
Verlag München : Universitätsbibliothek der TU München
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2014
Umfang/Format Online-Ressource
Hochschulschrift München, Technische Universität München, Diss., 2014
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bvb:91-diss-20141105-1071912-1-9
URL http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:91-diss-20141105-1071912-1-9 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Deutsch (ger)
Schlagwörter Statisches RAM ; CMOS-Speicher ; Soft Error ; Latch-up-Effekt ; Ionenstrahl ; Computersimulation
DDC-Notation 621.39732 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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