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Titel Semianalytical Threshold Voltage Model of a Double-Gate Nanoscale RingFET for Terahertz Applications in Radiation-Hardened (Rad-Hard) Environments / by Kunal Singh, S. Kumar, P. K. Tiwari, A. B. Yadav, S. Dubey, S. Jit
Person(en) Singh, Kunal (Verfasser)
Kumar, S. (Verfasser)
Tiwari, P. K. (Verfasser)
Yadav, A. B. (Verfasser)
Dubey, S. (Verfasser)
Jit, S. (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2020012223162278941973
DOI: 10.1007/s11664-019-07411-3
URL https://doi.org/10.1007/s11664-019-07411-3
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2019
DDC-Notation 621.381528 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Journal of electronic materials (Bd. 48, 16.7.2019, Nr. 10, date:10.2019: 6366-6371)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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