Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: idn=1310018421
|
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1310018421 |
| Titel | In Situ Transmission Electron Microscopy Study of the Strength and Stability of Nanoscaled Structural Materials |
| Person(en) |
Louchet, F. (Verfasser) Blandin, J.‐J. (Verfasser) Véron, M. (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2023111604422682654784 DOI: 10.1002/1527-2648(200108)3:8<608::AID-ADEM608>3.0.CO;2-I |
| URL | https://doi.org/10.1002/1527-2648(200108)3:8<608::AID-ADEM608>3.0.CO;2-I |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 09.08.2001 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Advanced engineering materials (Bd. 3, 2001, Nr. 8: 608-612. 5 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

