Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: idn=1310026696
|
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1310026696 |
| Titel | Microstructural Characterization of Electrosynthesized ZnTe Thin Films |
| Person(en) |
Mahalingam, T. (Verfasser) John, V.S. (Verfasser) Ravi, G. (Verfasser) Sebastian, P.J. (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2023111606291946293843 DOI: 10.1002/1521-4079(200204)37:4<329::AID-CRAT329>3.0.CO;2-U |
| URL | https://doi.org/10.1002/1521-4079(200204)37:4<329::AID-CRAT329>3.0.CO;2-U |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 28.03.2002 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Crystal research and technology (Bd. 37, 2002, Nr. 4: 329-339. 11 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

