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Titel Werkstoffcharakterisierung mittels Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie [SIMS]: Neue Möglichkeiten der Spuren-, Mikrobereichs- und Oberflächenanalyse / von M. Grasserbauer, G. Stingeder, M. Pimminger
Person(en) Grasserbauer, M. (Verfasser)
Stingeder, G. (Verfasser)
Pimminger, M. (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource, 1 online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2023111610520019823177
DOI: 10.1007/BF00487503
URL https://doi.org/10.1007/BF00487503
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1983
DDC-Notation 616.075 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Deutsch (ger)
Beziehungen Enthalten in: Analytical and bioanalytical chemistry (Bd. 315, Nr. 7, date:1.1983: 575-590)
Schlagwörter Spurenanalyse* (*maschinell ermittelt)
Sachgruppe(n) 610 Medizin, Gesundheit

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