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Titel Advance Radiation Metrology Techniques and Related Applications / by D. K. Aswal, S. K. Jha, A. C. Patra
Person(en) Aswal, D. K. (Verfasser)
Jha, S. K. (Verfasser)
Patra, A. C. (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2405020840452.711861361354
DOI: 10.1007/s12647-023-00729-8
URL https://doi.org/10.1007/s12647-023-00729-8
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
DDC-Notation 530.8 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Māpan (Bd. 39, 10.1.2024, Nr. 1, date:3.2024: 1-3)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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