Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: idn=1328097102
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1328097102 |
| Titel | Investigation of Filament Formation and Surface Perturbation in Nanoscale-Y2O3 Memristor: A Physical Modeling Approach / by Sanjay Kumar, Mayank Dubey, Megha Nawaria, Mohit Kumar Gautam, Mangal Das, Ritesh Bhardwaj, Shalu Rani, Shaibal Mukherjee |
| Person(en) |
Kumar, Sanjay (Verfasser) Dubey, Mayank (Verfasser) Nawaria, Megha (Verfasser) Gautam, Mohit Kumar (Verfasser) Das, Mangal (Verfasser) Bhardwaj, Ritesh (Verfasser) Rani, Shalu (Verfasser) Mukherjee, Shaibal (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2405020850220.825900050218 DOI: 10.1007/s11664-024-10967-4 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s11664-024-10967-4 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
| DDC-Notation | 621.3815 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of electronic materials (24.2.2024: 1-8) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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