Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: idn=132813766X
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/132813766X |
| Titel | Investigation of the influence of Al layer and total film thicknesses on structural and related magnetic properties in sputtered Ni/Al multilayer thin films / by Nadir Kaplan, Hilal Kuru, Hakan Köçkar |
| Person(en) |
Kaplan, Nadir (Verfasser) Kuru, Hilal (Verfasser) Köçkar, Hakan (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2405021314084.942565354088 DOI: 10.1007/s10854-024-12008-6 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s10854-024-12008-6 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
| DDC-Notation | 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of materials science / Materials in electronics (Bd. 35, 6.2.2024, Nr. 4, date:2.2024: 1-9) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

