Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: idn=1328351564
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1328351564 |
| Titel | Lattice Deformation at Submicron Scale : X-Ray Nanobeam Measurements of Elastic Strain in Electron Shuttling Devices / C. Corley-Wiciak, M. H. Zoellner, I. Zaitsev, K. Anand, E. Zatterin, Y. Yamamoto, Agnieszka Anna Corley-Wiciak, F. Reichmann, W. Langheinrich, Lars R. Schreiber, C. L. Manganelli, M. Virgilio, C. Richter, G. Capellini |
| Person(en) |
Corley-Wiciak, C. (Verfasser) Zoellner, M. H. (Verfasser) Zaitsev, I. (Verfasser) Anand, K. (Verfasser) Zatterin, E. (Verfasser) Yamamoto, Y. (Verfasser) Corley-Wiciak, Agnieszka Anna (Verfasser) Reichmann, F. (Verfasser) Langheinrich, W. (Verfasser) Schreiber, Lars Reiner (Verfasser) Manganelli, C. L. (Verfasser) Virgilio, M. (Verfasser) Richter, C. (Verfasser) Capellini, Giovanni (Verfasser) |
| Verlag | Aachen : Universitätsbibliothek der RWTH Aachen |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2023 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2405050133360.005115759600 DOI: 10.18154/RWTH-2024-03271 |
| URL | https://publications.rwth-aachen.de/record/983205 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: 10.1103/PhysRevApplied.20.024056 |
| DDC-Notation | 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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