Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: idn=1328376230
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1328376230 |
| Titel | Dependence of Reversible and Irreversible Failures of Semiconductor Devices on the Repetition Rate of Powerful Pulse Electromagnetic Interferences / by V. G. Usychenko, L. N. Sorokin, A. A. Sasunkevich |
| Person(en) |
Usychenko, V. G. (Verfasser) Sorokin, L. N. (Verfasser) Sasunkevich, A. A. (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2405052132187.785916594319 DOI: 10.1134/S1064226923120197 |
| URL | https://doi.org/10.1134/S1064226923120197 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2023 |
| DDC-Notation | 621.4 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of communications technology and electronics (Bd. 68, 1.3.2024, Nr. 12, date:12.2023: 1450-1457) |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

