Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: idn=1328459268
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1328459268 |
| Titel | Computational metrology and inspection (CMI) in mask inspection, metrology, review, and repair |
| Person(en) |
Pang, Linyong (Verfasser) Peng, Danping (Verfasser) Hu, Peter (Verfasser) Chen, Dongxue (Verfasser) He, Lin (Verfasser) Li, Ying (Verfasser) Satake, Masaki (Verfasser) Tolani, Vikram (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2405061619508.169750609381 DOI: 10.1515/aot-2012-0127 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 08.09.2012 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Advanced Optical Technologies (Bd. 1, 2012, Nr. 4: 299-321) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

