Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: idn=1328654834
Treffer 1 von 1
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1328654834 |
| Titel | Bestimmung von Ionenimplantationsprofilen aus der Messung der differentiellen Kapazität am Halbleiter—Elektrolyt‐Kontakt |
| Person(en) | Tan, Pham Minh (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2405080417593.270230306579 DOI: 10.1002/pssa.2210370209 |
| URL | https://doi.org/10.1002/pssa.2210370209 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 16.02.2006 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Physica status solidi / A / Applied research (Bd. 37, 2006, Nr. 2: 439-444. 6 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
Treffer 1 von 1
Administration
