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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Correlative Analysis of Surfaces and Nanostructures to Understand their Physics Using AFM and SEM / Darshit Jangid ; Constanze Eulenkamp, Gia-Khanh Pham, Harald Plank, Christian Schwalb ; Quantum Design Microscopy GmbH
Person(en) Jangid, Darshit (Verfasser)
Eulenkamp, Constanze (Akademischer Betreuer)
Khanh, Pham-Gia (Akademischer Betreuer)
Plank, Harald (Akademischer Betreuer)
Schwalb, Christian (Akademischer Betreuer)
Organisation(en) Quantum Design Microscopy GmbH (Sonstige)
Verlag München : Hochschule für angewandte Wissenschaften München
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Hochschulschrift Masterarbeit, München, Hochschule für angewandte Wissenschaften München, 2024
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bvb:m347-opus-4893
URL https://opus4.kobv.de/opus4-hm/frontdoor/index/index/docId/489 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Elektronenmikroskopie ; Nanostruktur ; Rasterkraftmikroskopie ; Nanomechanik
DDC-Notation 502.82 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 500 Naturwissenschaften

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