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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1328784266
Titel X‐ray diffraction topography and diffuse scattering techniques applied to study the defect structure of plastically deformed al single crystals
Person(en) Braude, I. S. (Verfasser)
Novikova, I. G. (Verfasser)
Startsev, V. I. (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2405090514318.170192303906
DOI: 10.1002/crat.19770120306
URL https://doi.org/10.1002/crat.19770120306
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 27.03.2006
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Crystal research and technology (Bd. 12, 2006, Nr. 3: 249-268. 20 S.)

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