Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Art des Inhalts Rezension
Titel S. Amelinckx, R. Gevers, J. Van Landuyt (Hrsg.). Diffraction and Imaging Techniques in Materials Science. Zweite, überarbeitete Auflage; North Holland Publishing Company, Amsterdam ‐ New York ‐ Oxford 1978 2 Bände, 848 Seiten, 382 Abbildungen, Sachregister. Preis US $ 55, 50 (125, 00 Dfl.)
Person(en) Schumann, B. (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2405100433112.602169009205
DOI: 10.1002/crat.19790140820
URL https://doi.org/10.1002/crat.19790140820
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 27.03.2006
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Crystal research and technology (Bd. 14, 2006, Nr. 8: K48-K48. 1 S.)

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