Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: idn=1328872815
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1328872815 |
| Titel | Impact of Post-Deposition Annealing on Electrical Properties of RF-Sputtered Cu2O/4H-SiC and NiO/4H-SiC PiN Diodes / by Hyung-Jin Lee, Soo-Young Moon, Kung-Yen Lee, Sang-Mo Koo |
| Person(en) |
Lee, Hyung-Jin (Verfasser) Moon, Soo-Young (Verfasser) Lee, Kung-Yen (Verfasser) Koo, Sang-Mo (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2405100927322.897157402790 DOI: 10.1007/s13391-024-00484-1 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s13391-024-00484-1 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
| DDC-Notation | 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Electronic materials letters (6.3.2024: 1-11) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

