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Link zu diesem Datensatz	https://d-nb.info/1328895947
Titel	Application of Al2O3 Film for Stabilization of the Charge Properties of the SiO2/p-Si Interface / by A. S. Kim, N. A. Serko, P. E. Khakuashev, A. N. Kolky, S. Yu. Yurchuck
Person(en)	Kim, A. S. (Verfasser) Serko, N. A. (Verfasser) Khakuashev, P. E. (Verfasser) Kolky, A. N. (Verfasser) Yurchuck, S. Yu (Verfasser)
Organisation(en)	SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format	1 Online-Ressource.
Persistent Identifier	URN: urn:nbn:de:101:1-2405101104352.436304291904 DOI: 10.1134/S1063739723080012
URL	https://doi.org/10.1134/S1063739723080012
Zeitliche Einordnung	Erscheinungsdatum: 2023
DDC-Notation	530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n)	Englisch (eng)
Beziehungen	Enthalten in: Russian microelectronics (Bd. 52, 5.3.2024, Nr. 8, date:12.2023: 835-841)
Sachgruppe(n)	530 Physik

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