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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1328962954
Titel Reliable Methods for Calculation of Average Film Thickness in a Vertical Thin‐film Evaporator †
Person(en) Taeymans, Dominique A. (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2405110414595.025017532283
DOI: 10.1002/cite.330510918
URL https://doi.org/10.1002/cite.330510918
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 09.06.2004
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Chemie - Ingenieur - Technik (Bd. 51, 2004, Nr. 9: 905-905. 1 S.)

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