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Titel Der Einfluß der Rauhigkeit der Probenoberfläche auf die Ergebnisse ellipsometrischer Messungen bei GaAs
Person(en) Löschke, K. (Verfasser)
Kühn, G. (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2405110550346.520473416500
DOI: 10.1002/crat.19760110609
URL https://doi.org/10.1002/crat.19760110609
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 27.03.2006
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Crystal research and technology (Bd. 11, 2006, Nr. 6: 645-652. 8 S.)

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