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Titel On the measurements of lattice parameters of semiconductor thin films
Person(en) Dogil, B. (Verfasser)
Horodecki, A. J. (Verfasser)
Precht, W. (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2405130500429.905153354386
DOI: 10.1002/crat.19770121214
URL https://doi.org/10.1002/crat.19770121214
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 27.03.2006
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Crystal research and technology (Bd. 12, 2006, Nr. 12: K73-K74. 2 S.)

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