Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: idn=132907596X
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/132907596X |
| Titel | The Applicability of Light‐Microscopical Methods for the Investigation of Dislocation Structure in Semiconductors |
| Person(en) |
Löschke, K. (Verfasser) Gottschalch, V. (Verfasser) Jacobs, K. (Verfasser) Tempel, A. (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2405130607241.983016335929 DOI: 10.1002/crat.19790140715 |
| URL | https://doi.org/10.1002/crat.19790140715 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 27.03.2006 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Crystal research and technology (Bd. 14, 2006, Nr. 7: 887-894. 8 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

