Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: idn=132907632X
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/132907632X |
| Titel | Bestimmung der Pinhole‐Dichte von Isolatorschichten durch chemisches Ätzen (I). Das System Silizium‐Siliziumdioxid |
| Person(en) |
Thiemt, K. (Verfasser) Kaltofen, R. (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2405130612464.783417761428 DOI: 10.1002/crat.19750100310 |
| URL | https://doi.org/10.1002/crat.19750100310 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 27.03.2006 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Crystal research and technology (Bd. 10, 2006, Nr. 3: 305-312. 8 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

