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Titel Process Induced Crystal Defects in Dislocation‐Free n‐Type Silicon Material
Person(en) Fischer, W. (Verfasser)
Heymann, G. (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2405130624172.411689728967
DOI: 10.1002/crat.19790140706
URL https://doi.org/10.1002/crat.19790140706
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 27.03.2006
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Crystal research and technology (Bd. 14, 2006, Nr. 7: 797-807. 11 S.)

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