Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: idn=1329579305
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1329579305 |
| Titel | A novel joint segmentation approach for wafer surface defect classification based on blended network structure / by Zhouzhouzhou Mei, Yuening Luo, Yibo Qiao, Yining Chen |
| Person(en) |
Mei, Zhouzhouzhou (Verfasser) Luo, Yuening (Verfasser) Qiao, Yibo (Verfasser) Chen, Yining (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2405152110227.422482748563 DOI: 10.1007/s10845-024-02324-3 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s10845-024-02324-3 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
| DDC-Notation | 621.38152 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of intelligent manufacturing (13.3.2024: 1-15) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

