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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Egbers, Gitta: Auswertung von Sekundärionen-Massenspektren modifizierter Silicium-Waferoberflächen mit Hilfe der Hauptkomponentenanalyse
Teil: [Dokumentenbd.].
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1998
Umfang/Format 111 S. : graph. Darst.

Frankfurt Signatur: H 1998 B 2772
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: H 1998 B 2772
Bereitstellung in Leipzig




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