Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Art des Inhalts |
Aufsatzsammlung Konferenzschrift |
Titel |
High resolution three-dimensional reciprocal space mapping of semiconductor nanostructures / S. O. Mariager ... With contributions from the 9th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP) : Linz, Austria, 15 - 19 September 2008 / XTOP 2008 Guest ed.: Kulian Stangl and Günther Bauer |
Person(en) |
Stangl, Julian (Herausgeber) Mariager, Simon O. (Mitwirkender) |
Organisation(en) | Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (9 : 2008 : Linz) |
Verlag | Weinheim : Wiley-VCH |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2009 |
Umfang/Format | S. 1682 - 1935 : Ill., graph. Darst. ; 28 cm |
ISBN/Einband/Preis | geh. |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | Physica status solidi / A / Applications and materials science ; 206, No. 8, Special issue |
Anmerkungen | Literaturangaben |
Schlagwörter | Röntgenstrukturanalyse ; Aufsatzsammlung |
DDC-Notation | 548.83 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 540 Chemie ; 530 Physik |
Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
Frankfurt |
Signatur: DZb 76/387
Bereitstellung in Frankfurt |
Leipzig |
Signatur: ZA 44850
Bereitstellung in Leipzig |