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Bücher
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Art des Inhalts Aufsatzsammlung
Konferenzschrift
Titel High resolution three-dimensional reciprocal space mapping of semiconductor nanostructures / S. O. Mariager ...
With contributions from the 9th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP) : Linz, Austria, 15 - 19 September 2008 / XTOP 2008
Guest ed.: Kulian Stangl and Günther Bauer
Person(en) Stangl, Julian (Herausgeber)
Mariager, Simon O. (Mitwirkender)
Organisation(en) Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (9 : 2008 : Linz)
Verlag Weinheim : Wiley-VCH
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2009
Umfang/Format S. 1682 - 1935 : Ill., graph. Darst. ; 28 cm
ISBN/Einband/Preis geh.
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Physica status solidi / A / Applications and materials science ; 206, No. 8, Special issue
Anmerkungen Literaturangaben
Schlagwörter Röntgenstrukturanalyse ; Aufsatzsammlung
DDC-Notation 548.83 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 540 Chemie ; 530 Physik
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: DZb 76/387
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: ZA 44850
Bereitstellung in Leipzig




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