Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: nid=136596-4
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/136596-4 |
| Veranstaltung | Conference on Basic Failure Mechanisms and Reliability in Electronics |
| Vorgänger | New York Conference on Electronic Reliability |
| Nachfolger | New York Conference on Electronic Reliability |
| Typ | Veranstaltungsfolge (vif) |

