Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: nid=141500-1
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/141500-1 |
| Veranstaltung | ATE Central |
| Andere Namen | Automated Testing for Electronics Manufacturing Conference (ATE Central) |
| Vorgänger | ATE Central Seminar Exhibit |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: ATE Central |
| Typ | Veranstaltungsfolge (vif) |

