Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: nid=305160-2
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/305160-2 |
| Veranstaltung | Electronics Test and Measurement Conference |
| Andere Namen | ETMC (Abkürzung) |
| Typ | Veranstaltungsfolge (vif) |

