Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: nid=4274473-8
![]() |
|
Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/4274473-8 |
Sachbegriff | Rasterkraftmikroskopie |
Quelle | B 2006 (online) |
Synonyme |
Kraftmikroskopie AFM (Abkürzung) Atomic force microscopy RKM (Abkürzung) SFM (Abkürzung) Scanning force microscopy |
Oberbegriffe | Rastersondenmikroskopie |
DDC-Notation |
502.82 570.282 |
Systematik | 21.3 Elektrizität, Magnetismus, Optik |
Typ | Allgemeinbegriff (saz) |
Andere Normdaten |
LCSH: Atomic force microscopy RAMEAU: Microscopie à force atomique |
Untergeordnet |
1 Datensatz
|
Thema in |
441 Publikationen
|
Maschinell verknüpft mit |
125 Publikationen
|
