Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Die 1,9 Millionen frei zugänglichen Online-Publikationen können in der Trefferliste über "Alle Standorte - Online (frei zugänglich)" gefiltert werden. Zugang erhalten Sie in der Datensatzansicht über den Link "Archivobjekt öffnen" oder über die URN im Label "Persistent Identifier".
 
Neuigkeiten Die Lesesäle der Deutschen Nationalbibliothek sind für den Benutzungsbetrieb geöffnet. Für den Zutritt am Standort Frankfurt am Main ist eine Reservierungsbestätigung notwendig. Das Reservierungssystem und alle weiteren Hinweise zur Benutzung finden Sie auf der Startseite unserer Homepage. Lösen Sie Bestellungen bitte erst nach der erfolgreichen Reservierung aus.
 
Neuigkeiten Das Ad-hoc-Bereitstellungssystem steht am 24. und 25. Mai in Frankfurt und Leipzig nicht zur Verfügung. In dieser Zeit ist die Nutzung von bestellten elektronischen Publikationen nicht möglich.
 
 

Ergebnis der Suche nach: nid=4333578-0



Treffer 1 von 1 < < > <



Sachbegriffe
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/gnd/4333578-0
Sachbegriff Rasterkraftmikroskop
Quelle Römpp (online); Physikal. Blätter 48(1992) Nr. 12 S. 1007
Erläuterungen Definition: Hochauflösendes Mikroskop zur Abbildung von Oberflächen und Messung atomarer Kräfte auf der Nanometerskala
Oberbegriffe Rastersondenmikroskop
DDC-Notation 502.82
Systematik 21.3 Elektrizität, Magnetismus, Optik
Typ Allgemeinbegriff (saz)
Andere Normdaten LCSH: Atomic force microscopy
RAMEAU: Microscopie à force atomique
Untergeordnet 1 Datensatz
  1. Kantilever
    Rasterkraftmikroskop
Thema in 46 Publikationen
  1. Methoden der Leitfähigkeitsuntersuchung mittels Rasterkraftmikroskop und deren Anwendung auf Barium Titanat Systeme
    Reichenberg, Bernd. - Jülich : Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek, Verlag, [2018]
  2. Novel sensors for scanning force microscopy based on carbon nanotube mechnical resonators
    Reiche, Christopher Friedrich. - Dresden : TUDpress, 2016
  3. ...
Maschinell verknüpft mit 11 Publikationen
  1. Großflächige Topographiemessungen mit einem Weißlichtinterferenzmikroskop und einem metrologischen Rasterkraftmikroskop
    Wu, Yiting. - Erlangen : FAU University Press, 2022
  2. Optimierung und Objektivierung der DNA-Biegewinkelmessung zur Untersuchung der initialen Schadenserkennung von Glykosylasen im Rahmen der Basen-Exzisions-Reparatur
    Mehringer, Christian Felix. - Würzburg : Universität Würzburg, 2021
  3. ...





Treffer 1 von 1
< < > <


E-Mail-IconAdministration