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Sachbegriffe
Link zu diesem Datensatz http://d-nb.info/gnd/4333578-0
Sachbegriff Rasterkraftmikroskop
Quelle Römpp (online); Physikal. Blätter 48(1992) Nr. 12 S. 1007
Erläuterungen Definition: Hochauflösendes Mikroskop zur Abbildung von Oberflächen und Messung atomarer Kräfte auf der Nanometerskala
Oberbegriffe Rastersondenmikroskop
DDC-Notation 502.82
Systematik 21.3 Elektrizität, Magnetismus, Optik
Typ Allgemeinbegriff (saz)
Andere Normdaten LCSH: Atomic force microscopy
RAMEAU: Microscopie à force atomique
Untergeordnet 1 Datensatz
  1. Kantilever
    Rasterkraftmikroskop
Thema in 45 Publikationen
  1. Novel sensors for scanning force microscopy based on carbon nanotube mechnical resonators
    Reiche, Christopher Friedrich. - Dresden : TUDpress, 2016
  2. Aufbau eines 300mK-10T-UHV-Kryostatsystems für die Rasterkraftmikroskopie und Analyse der Kraftsensortemperatur
    Ruschmeier, Kai. - Göttingen : Cuvillier, 2014, 1. Aufl.
  3. ...
Maschinell verknüpft mit 5 Publikationen
  1. Subatomare Auflösung auf Adatomen und kraftfeldabhängige laterale Manipulation mit einem eigenentwickelten Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskop
    Emmrich, Matthias. - Regensburg : Universitätsbibliothek Regensburg, 2015
  2. Aufbau eines Tieftemperatur-Ultrahochvakuum-Rasterkraftmikroskops und Messung elektrischer Multipolkräfte im Piconewton-Bereich
    Schneiderbauer, Maximilian. - Regensburg : Universitätsbibliothek Regensburg, 2014
  3. ...





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