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Rezension „IT-Audit“ Enthalten in HMD 10.2.2021: 1-3
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Rezension „Business Analytics“ Enthalten in HMD 27.1.2019: 1-3
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Zur Defektelektronenbeweglichkéit in Silberbromid Enthalten in The Science of nature Bd. 52, Nr. 17, date:1.1965: 491-492
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Teilchenzählung und Dosimetrie mit Silizium-PN-Sperrschichten Knoll, Max. - Köln : Westdt. Verl., 1964
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Materials and processes of electron devices Knoll, Max. - Berlin : Springer, 1959
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Materials and Processes of Electron Devices Knoll, Max. - Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1959
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7 |
Anleitungen zum Arbeiten im Röhrenlaboratorium Knoll, Max. - Berlin : J. Springer, 1937
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8 |
Anleitungen zum Arbeiten im Röhrenlaboratorium Knoll, Max. - Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1937
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9 |
Werkstoffkunde der Hochvakuumtechnik Espe, Werner. - Berlin : J. Springer, 1936
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10 |
Werkstoffkunde der Hochvakuumtechnik Espe, Werner. - Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1936
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