Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "A circular pipeline processing based deterministic parallel test pattern generator."
Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1118105877 |
Titel | CPP-ATPG: A Circular Pipeline Processing Based Deterministic Parallel Test Pattern Generator / by Kuen-Wei Yeh, Jiun-Lang Huang, Laung-Terng Wang |
Person(en) |
Yeh, Kuen-Wei (Verfasser) Huang, Jiun-Lang (Sonstige) Wang, Laung-Terng (Sonstige) |
Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:1111-2016110527946 DOI: 10.1007/s10836-016-5615-z |
URL | http://dx.doi.org/10.1007/s10836-016-5615-z |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2016 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | In: Journal of electronic testing (Bd. 32, 9.9.2016, Nr. 5, date:10.2016: 625-638) |
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