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Ergebnis der Suche nach: tit all "Dynamic Power Integrity Control of ATE for Eliminating Overkills and Underkills in Device Testing."
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Artikel 1 Dynamic Power Integrity Control of ATE for Eliminating Overkills and Underkills in Device Testing
In: Journal of electronic testing 2.4.2016: 1-15 		Online Ressource
Artikel 2 2016 JETTA-TTTC Best Paper Award
In: Journal of electronic testing Bd. 33, 3.11.2017, Nr. 6, date:12.2017: 691-692 		Online Ressource


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